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AT688絕緣電阻測(cè)試儀是采用高性能ARM微處理器控制的智能測(cè)試儀器。彩色液晶顯示，*1V~1000V任意電壓輸出，滿(mǎn)足任何挑剔的要求。六量程測(cè)試，使絕緣電阻測(cè)量范圍可達(dá)：100k-10TΩ（105~1013Ω），大顯示位數(shù)20000數(shù)。測(cè)試速度可達(dá)100次/秒，超高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了佳方案。定時(shí)器可以設(shè)置正計(jì)數(shù)和倒計(jì)時(shí)功能。

更新日期：2020-04-18

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AT683絕緣電阻測(cè)試儀 是采用高性能微處理器控制的智能測(cè)試儀器。*1V~1000V任意電壓輸出，滿(mǎn)足任何挑剔的要求。六量程測(cè)試，使絕緣電阻測(cè)量范圍可達(dá)：100k-10TΩ（105~1013Ω），大顯示位數(shù)9999數(shù)。測(cè)試速度可達(dá)55次/秒，超高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了佳方案。 2010升級(jí)版改良了采樣電路，其響應(yīng)時(shí)間已經(jīng)超越模擬表，成為迄今快的數(shù)字智能表。

更新日期：2020-04-18

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AT682L絕緣電阻測(cè)試儀 是采用高性能微處理器控制的智能測(cè)試儀器。六量程測(cè)試，使絕緣電阻測(cè)量范圍：10k-500GΩ（104~5x1011Ω），大顯示位數(shù)9999數(shù)。測(cè)試速度可達(dá)15次/秒，超高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了佳方案。高速測(cè)試且高性?xún)r(jià)比設(shè)計(jì)，使得 AT682L *替換模擬指針表。

更新日期：2020-04-18

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AT682SE絕緣電阻測(cè)試儀 是采用高性能微處理器控制的智能測(cè)試儀器。六量程測(cè)試，使絕緣電阻測(cè)量范圍可達(dá)：10k-1TΩ（104~1012Ω），大顯示位數(shù)9999數(shù)。測(cè)試速度可達(dá)55次/秒，超高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了佳方案。高速測(cè)試且高性?xún)r(jià)比設(shè)計(jì)，使得 AT682SE *替換模擬指針表。

更新日期：2020-04-18

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AT682絕緣電阻測(cè)試儀 是采用高性能微處理器控制的智能測(cè)試儀器。在不需要使用電壓源的場(chǎng)合，AT682以其合適的價(jià)格下提供的測(cè)量性能。 內(nèi)置1V~1000V任意電壓輸出，滿(mǎn)足任何挑剔的要求。 六量程測(cè)試，使絕緣電阻測(cè)量范圍可達(dá)：10k-1TΩ（104~1012Ω），大顯示位數(shù)9999數(shù)。測(cè)試速度可達(dá)55次/秒，高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了佳方案。

更新日期：2020-04-18

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ET2679型絕緣電阻測(cè)試儀 ●測(cè)試電壓:DC:500V/1000V兩檔 ±5% ●測(cè)量范圍:1MΩ～1999MΩ ±5% ●測(cè)試時(shí)間: 定時(shí)1～99s±5% 或00不定時(shí)∽

更新日期：2020-04-06

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